電子百科
與傳統(tǒng)存儲(chǔ)器相比,F(xiàn)RAM具有下列優(yōu)勢(shì):
非易失性
即使沒(méi)有上電,也可以保存所存儲(chǔ)的信息。
與SRAM相比,無(wú)需后備電池(環(huán)保產(chǎn)品)
更高速度寫入
像SRAM一樣,可覆蓋寫入
不要求改寫命令
?? 對(duì)于擦/寫操作,無(wú)等待時(shí)間
寫入循環(huán)時(shí)間 =讀取循環(huán)時(shí)間
寫入時(shí)間: E2PROM的1/30,000
具有更高的讀寫耐久性
確保最大1012次循環(huán)(100萬(wàn)億循環(huán))/位的耐久力
耐久性:超過(guò)100萬(wàn)次的 E2PROM
具有更低的功耗
不要求采用充電泵電路
功耗:低于1/400的E2PROM
FRAM的存儲(chǔ)單元主要由電容和場(chǎng)效應(yīng)管構(gòu)成,但這個(gè)電容不是一般的電容,在它的兩個(gè)電極板中間沉淀了一層晶態(tài)的鐵電晶體薄膜。前期的FRAM的每個(gè)存儲(chǔ)單元使用2個(gè)場(chǎng)效應(yīng)管和2個(gè)電容,稱為“雙管雙容”(2T2C),每個(gè)存儲(chǔ)單元包括數(shù)據(jù)位和各自的參考位。
在FRAM讀操作后必須有個(gè)“預(yù)充電”過(guò)程,來(lái)恢復(fù)數(shù)據(jù)位。增加預(yù)充電時(shí)間后,F(xiàn)RAM一個(gè)完整的讀操作周期為130ns,圖(a)所示。這是與SRAM和E2PROM不同的地方。圖(b)為寫時(shí)序。
FRAM |
E2PROM |
Flash |
SRAM | |
存儲(chǔ)器類別 |
非易失性 |
非易失性 |
非易失性 |
易失性 |
晶胞結(jié)構(gòu)*1 |
1T1C/2T2C |
2T |
1T |
6T |
數(shù)據(jù)改寫方法 |
覆蓋寫入 |
擦除+寫入 |
扇面擦除+?寫入 |
覆蓋寫入 |
寫入循環(huán)時(shí)間 |
150ns*2 |
5ms |
10μs |
55ns |
耐久力 |
最大?1012 (1萬(wàn)億次循環(huán)*3)*2 |
106 (100萬(wàn)次循環(huán)) |
105 (10萬(wàn)次循環(huán)) |
無(wú)限制 |
寫入操作電流 |
5mA(典型值)*2 ?15mA(最大值)*2 |
5mA(最大值) |
20mA(最大值) |
8mA(典型值) |
待機(jī)電流 |
5μA(典型值)*2?? ?50μA(最大值)*2 |
2μA(最大值) |
100μA(最大值) |
0.7μA(典型值)? 3μA(最大值) |