1. 局部放電

　　局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極尖端）。

　　2. 電荷量q

　　在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

　　3. 視在放電量校準(zhǔn)器

　　視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局放儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局放儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出，而非直接測(cè)出，故此放電量稱為“視在放電量”。

　　校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)必備的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　　視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

　　校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

　　4.檢測(cè)阻抗

　　檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

　　檢測(cè)阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號(hào)。（見表1）

　　5.時(shí)間窗（門單元）

　　時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。

　　時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通（加亮區(qū)域）和截止（未加亮區(qū)域）兩部分，通過改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通（加亮區(qū)域），干擾脈沖置于截止（未加亮區(qū)域），此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會(huì)影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。

　　1、同時(shí)測(cè)量局部放電產(chǎn)生的超聲波信號(hào)和超高頻信號(hào)，充分發(fā)揮出兩種不同檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，保證了對(duì)各種缺陷的檢測(cè)靈敏度，提高了在復(fù)雜現(xiàn)場(chǎng)干擾環(huán)境下局部放電信號(hào)的辨識(shí)能力；

　　2、采用體外檢測(cè)技術(shù)，只要把UHF特高頻傳感器靠近運(yùn)行中的GIS盆式絕緣子附近，或者把AE超聲波傳感器貼在GIS金屬外殼上，就可對(duì)GIS內(nèi)部可能存在的局部放電缺陷進(jìn)行檢測(cè)，不需對(duì)GIS做任何的改動(dòng)，也不需停電，更不會(huì)影響GIS的正常運(yùn)行；

　　3、靈敏度高達(dá)5uV或5pC，完全滿足現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的要求；

　　4、實(shí)時(shí)顯示8種局部放電圖譜，幾乎包含了當(dāng)前國(guó)際上流行的全部分析功能，并輔以簡(jiǎn)單明了的Meter顯示模式，為分析局部放電類型及特征提供有效手段；