IC內(nèi)部的開短路測試。

　　IC 內(nèi)的保護二極體測試。

　　IC上元器件值的測試 。

　　封裝與晶圓錫球接點的開短路測試。

　　對IC上電，測試關(guān)鍵點的電壓，來檢測內(nèi)部功能。

　　Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC　阻抗比對測試。

　　Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC　電容比對測試。

　　通用GPIB擴展來量測IC關(guān)鍵點波形，頻率等參數(shù)。

　　支持GPIB外圍設(shè)備擴展功能。

　　模塊化設(shè)計，為擴展多種功能提供了測試平臺。

　　Board View功能可即時顯示不良腳位，針點位置，方便檢修。

　　測試程序全部自動生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。

　　PTI818 BGA測試儀系統(tǒng)具自我診斷功能及遠端監(jiān)控和遙控功能。

　　完整豐富的測試統(tǒng)計資料及報表，且自動儲存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)。

　　豐富的測試信號源及Reed Relay Switching Board,大大的保證了穩(wěn)定性和測試覆蓋率。

　　一、大批量返修IC的檢測。

　　二、不良IC的故障原因的查找及統(tǒng)計，以便改進設(shè)計。

　　三、IC質(zhì)不高的來料檢查，查出率在99.5%以上，且速度快。