壓敏電阻器（MOV）的常見失效模式主要包括以下幾種：

1. 開路失效：當(dāng)MOV流過超出其承受能力的浪涌電流時，可能導(dǎo)致本體炸裂，表現(xiàn)為開路狀態(tài)。這種模式通常不會引起燃燒現(xiàn)象。

2. 短路失效：MOV可能因為內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損壞或材料老化而發(fā)生短路，這通常與過電流保護方式的弊端有關(guān)。短路本身不會引起MOV損壞，但如果保險絲未損壞，這可能表明損壞不是由短路或過流引起的。

3. 性能劣化：表現(xiàn)為漏電流增大，壓敏電壓顯著下降，直至為零。這種劣化可能是由于材料老化或長期承受過電壓造成的。

4. 炸裂失效：如果過電壓引起的浪涌能量太大，超過了MOV的極限承受能力，MOV可能會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。

5. 穿孔失效：在某些情況下，MOV內(nèi)部可能發(fā)生穿孔，導(dǎo)致失效。

6. 熱失效：由于散熱不良或環(huán)境溫度過高，MOV可能會因過熱而損壞。

7. 電壓擊穿：在某些情況下，MOV可能在未達到預(yù)定電壓時發(fā)生擊穿，導(dǎo)致短路。

了解這些失效模式有助于在設(shè)計和使用過程中采取適當(dāng)?shù)谋Ｗo措施，以延長MOV的使用壽命并確保電路的安全運行。